高可靠微处理器的设计

• 作者: 张英武 袁国顺 郭天雷
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 微处理器 加固技术 单粒子 故障注入
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 页码范围: 59-62
• 页数: 4页
• 分类号: TN47
• 语种: 中文

摘要

随着集成电路特征尺寸的降低,由空间射线引起的单粒子效应(single event effect,SEE)愈发严重.首先从工艺、版图、电路和系统四个层次考虑,介绍了一些常见的加固方法,然后采用基于仿真的故障注入工具分析了一款微处理器各个模块的故障敏感度,根据统计数据,采用基于DICE的加固D触发器替换原来的触发器和在微处理器关键模块采用冗余算法的两种方法加固了微处理器.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁国顺	中国科学院微电子研究所	50	218	7.0	12.0
2	郭天雷	中国科学院微电子研究所	8	33	3.0	5.0
3	张英武	中国科学院微电子研究所	5	51	5.0	5.0