高可靠微处理器结构与实现

• 作者: 于立新 彭和平 赵元富 陈雷 高德远
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 容错 三模冗余(rMR) 错误纠一检二(SEC-DED) 可靠性
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 页码范围: 78-81,85
• 页数: 5页
• 分类号: TN431
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2006.07.022

摘要

文章介绍了抗单粒子翻转容错处理器NBHARK的结构与实现,采用了改进的优化奇权重列编码方法纠检寄存器文件的瞬时错误.提出了多种有效方法提高整个处理器可靠性,如三模冗余内部临时寄存器,三模冗余时钟,片上EDAC,奇偶校验,强制cache缺失等.该芯片在smic 0.18μm CMOS工艺投片.辐射试验表明,粒子注入(＞50,000)引起的单粒子翻转错误均成功纠正.试验采用252Cf辐射源,3.5 u Ci,以及43 MeV.cm2/mg平均LET进行.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高德远	西北工业大学航空微电子设计中心	166	1045	15.0	24.0
2	赵元富		28	104	6.0	8.0
3	彭和平	西北工业大学航空微电子设计中心	7	31	4.0	5.0
4	于立新		17	133	7.0	10.0
5	陈雷	西北工业大学航空微电子设计中心	10	46	5.0	6.0