微处理器高低速模式下的单粒子功能错误分析

• 作者: 岳素格 董攀 郑宏超 陈茂鑫 陈莉明
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 单粒子效应 微处理器 单粒子功能错误 单粒子翻转
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 页码范围: 18-21
• 页数: 4页
• 分类号: TP302.8
• 语种: 中文

摘要

对一款国产抗辐射加固SPARC-V8微处理器进行了高低速两种模式下的单粒子试验。试验获得了单粒子功能中断的阈值和饱和错误截面，并预估了G EO轨道在轨错误率。经过比较分析，国产微处理器与国外同类产品具有相同量级的抗单粒子指标，微处理器在开CACHE的高速模式下抗单粒子能力优于低速模式约2倍。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	岳素格		28	96	5.0	8.0
2	郑宏超		16	23	2.0	4.0
3	董攀		6	9	2.0	2.0
4	陈莉明		4	2	1.0	1.0
5	陈茂鑫		3	1	1.0	1.0