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摘要:
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 DETERMINATION OF ULTRA TRACE LEVEL METALLIC IMPURITIES IN SEMICONDUCTOR MATERIALS BY ICP-MS
来源期刊 光谱学与光谱分析 学科 物理学
关键词
年,卷(期) 2000,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 167-169
页数 3页 分类号 O4
字数 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-0593.2000.02.008
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光谱学与光谱分析
月刊
1000-0593
11-2200/O4
大16开
北京市海淀区学院南路76号钢铁研究总院
82-68
1981
chi
出版文献量(篇)
13956
总下载数(次)
19
总被引数(次)
127726
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