应用数字散斑相关技术进行薄膜材料断裂问题研究

• 作者: 亢一澜 富东慧 王怀文
• 来源期刊: 烟台大学学报(自然科学与工程版)
• 学科: 物理学
• 关键词: 数字散斑相关 薄膜材料 应力强度因子
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 100-104
• 页数: 5页
• 分类号: O348.12
• 字数: 1875字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8820.2001.02.004

摘要

将数字散斑相关测量方法应用于薄膜材料断裂问题研究，测量了薄膜材料的常规力学性能参数及裂纹尖端区域位移场，通过裂纹尖端区域位移场确定了应力强度因子（SIF），从而在技术上解决了薄膜材料断裂力学性能测试的困难.工作表明，此方法可有效地应用于薄膜等小尺寸材料的实验应力分析及断裂行为.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	亢一澜	天津大学机械学院力学系	56	896	16.0	29.0
2	富东慧	天津大学机械学院力学系	31	230	8.0	14.0
3	王怀文	天津大学机械学院力学系	6	335	6.0	6.0