失效物理

• 来源期刊: 电子科技文摘
• 学科: 工学
• 关键词: 失效物理 半导体器件 故障分析 性能衰降 隔离技术 与电路 建模 环境试验 单元 失效率曲线
• 年，卷（期）: dzkjwz_2001,（1）
• 页码范围: 3-4
• 页数: 2页
• 分类号: TN

摘要

【正】 Y2000-62185-64 0100025用于 CMOS SRAM 单元冷故障分析的新型单元隔离技术=Novel cell isolation technique for the analysis ofCMOS SRAM cell cold failure[会,英]/Lim,Y.-W.&Ycoh.T.-S.//1998 IEEE International Conference onSemiconductor Electronics.—64～69(EC)Y2000-62185-86 0100026半导体器件与电路的性能衰降建模=Degradationmodeling of semiconductor devices and electrical circuits[会,英]/Lagies,A.U.& Gohler,L.//1998 IEEE