基于失效物理原理的光耦寿命分析研究

• 作者: 刘新润 卢炽华 孙志端 王乐 魏雄飞 黄友朋
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 光耦 失效物理 威布尔模型 寿命 智能电表
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 所属期刊栏目: 电子电路设计分析及应用
• 页码范围: 62-67
• 页数: 6页
• 分类号: TM933
• 字数: 3364字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2020.01.013

摘要

为研究光耦应用于智能电表中的可靠性寿命,针对光耦进行失效分析和试验验证.基于失效物理原理的思路,采用威布尔模型推算出光耦的可靠度和工作寿命,并结合Eyring模型推算出寿命模型.结果推算出智能电表的3个典型电路如各采用1个光耦,则在65℃下老化110h后,将会逐渐筛选出100％的该失效物理原理光耦,能为光耦的工艺质量控制和可靠性预计方面提供参考依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄友朋	广东电网有限责任公司计量中心	16	50	5.0	6.0
2	刘新润		2	0	0.0	0.0
3	王乐		4	0	0.0	0.0
4	卢炽华		4	0	0.0	0.0
5	孙志端		3	0	0.0	0.0
6	魏雄飞		1	0	0.0	0.0