低氧和氧化应激中 NO介导培养神经元损伤机理的实验研究

• 作者: 于如同 官鹏 艾效蔓 高立达
• 来源期刊: 法医学杂志
• 学科: 政治法律
• 关键词: 低氧 氧化应激 一氧化氮 氧自由基 神经元损伤
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 79-81,85
• 页数: 4页
• 分类号: DF795.1
• 字数: 2830字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-5619.2001.02.005

摘要

目的探讨低氧、氧化应激中一氧化氮（ NO）和氧自由基之间关系及其对培养神经元的损伤机理。方法对培养的新生大鼠神经细胞分别进行低氧、 H2O2氧化应激处理和超氧化物歧化酶（ SOD）抗氧化应激处理，用比色法等检测培养上清液中 NO、丙二醛（ MDA）、乳酸脱氢酶（ LDH）和 SOD含量变化指标。结果与对照组比较，低氧组和 H2O2组的 NO、 LDH、 MDA含量均显著增高， SOD含量显著降低， NO与 SOD含量变化呈负相关关系。预先给予终浓度为 200U/ml的 SOD处理，可使神经细胞的 NO、 LDH和 MDA释放量明显减少。各组间 NO含量与 LDH、 MDA含量呈正相关关系。结论低氧、氧化应激促使神经元 NO产生增多， NO有增加氧自由基对神经细胞的损伤作用。 SOD具有清除氧自由基和减轻 NO对神经元的损伤作用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	官鹏	华西医科大学法医学院	9	54	4.0	7.0
2	高立达	华西医科大学附属第一医院神经外科	27	217	8.0	14.0
3	艾效蔓	北京医院检验科	2	12	1.0	2.0
4	于如同	华西医科大学附属第一医院神经外科	1	0	0.0	0.0