单元互耦对自适应平面阵列性能的影响

• 作者: 刘其中 张厚 彭宏利
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 单元互耦 矩量法 并矢格林函数法 自适应平面阵列
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 页码范围: 764-767
• 页数: 4页
• 分类号: TN828.6
• 字数: 1712字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2001.06.017

摘要

采用混合法-矩量法和并矢格林函数法,着重研究了微带天线单元间的互耦对自适应平面阵列输入驻波比、波束指向、方向图的副瓣电平和零点位置的影响,最后通过测试对上述影响进行了验证,理论和实测较为一致.结果表明,在移动通信中,基站自适应平面阵列的设计必须考虑辐射单元互耦效应.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘其中	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	130	1413	19.0	31.0
2	彭宏利	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	6	9	2.0	3.0
3	张厚	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	9	11	2.0	3.0