硅气凝胶电子能谱的测定与量子化学研究

• 作者: 周根树 王海霞 蒲敏 郑茂盛 金志浩
• 来源期刊: 西安交通大学学报
• 关键词: 二氧化硅 气凝胶 电子能谱 从头算 尺寸效应
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 195-198
• 页数: 4页
• 分类号: TB303|O64.12
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-987X.2001.02.021

摘要

利用能谱仪得到了硅气凝胶的K壳层电子能谱，测定的硅气凝胶Si在1s的电子电离能为1．711～1．762　keV，并随颗粒尺寸的增大而升高，因而确认硅气凝胶的电子能谱也具有尺寸效应．依据量子化学原理，建立了聚硅酸纳米粒子簇模型．利用从头算方法，在HF／3-21G的水平上，用解析梯度技术全优化得到了纳米粒子簇的几何构型．根据Koopmans定理，计算了纳米粒子簇的分子轨道能级，得到了电子能谱峰的位置，理论计算Si在1s的电子电离能为1.862～1．875　keV，其尺寸效应与实验结果的变化趋势一致．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金志浩	西安交通大学材料科学与工程学院	325	5024	34.0	51.0
2	周根树	西安交通大学材料科学与工程学院	71	871	14.0	26.0
3	郑茂盛	西安交通大学材料科学与工程学院	101	1282	19.0	29.0
4	王海霞	西安交通大学环境与化学工程学院	22	81	6.0	7.0
5	蒲敏	西安交通大学环境与化学工程学院	15	102	5.0	9.0