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摘要:
在银基中成功调用铜基中的Se、Te通道,采用银棒压片法,用清洗液对压片表面处理后,直接在光谱仪上测定银锭中12种杂质元素。本法的测定范围为0.0001%-0.03%,该方法具有操作简便、快速、准确、银消耗少等优点。
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文献信息
篇名 直读光谱仪测定纯银中12种杂质元素
来源期刊 有色金属分析通讯 学科 工学
关键词 杂质元素 测定 直读光谱仪
年,卷(期) 2001,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 5-8
页数 4页 分类号 TG146.32
字数 语种
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李莎莎 4 6 1.0 2.0
2 陈卫东 金昌冶炼厂化验室 2 0 0.0 0.0
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2001(0)
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研究主题发展历程
节点文献
杂质元素
测定
直读光谱仪
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
有色金属分析
双月刊
北京新街口外大街2号信息所
出版文献量(篇)
547
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