在役氢氟酸管道焊缝解剖研究

• 作者: 王洪涛 陈江 陶伟华
• 来源期刊: 中国计量学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 氧化物 伪裂纹 腐蚀
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 页码范围: 79-82
• 页数: 4页
• 分类号: TE980.43|TE973.6
• 字数: 2200字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1540.2001.01.016

摘要

文章分析了烷基化氢氟酸工艺管道的腐蚀行为，剖析了在X射线拍片中含裂纹状影像的氢氟酸工艺管道焊缝。发现氢氟酸工艺管道拍片所观察到的平行于焊缝的裂纹状影像为氧化物龟裂造成的伪裂纹，氢氟酸对低碳钢的腐蚀是影响管道寿命的主要因素，排除了应力腐蚀、氢腐蚀和氢脆的可能性，建议在该类管道的安全检测中，应将管道测厚作为重点检测项目，对拍片中发现的伪裂纹不必作进一步追究。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈江	浙江工业大学机电学院	41	246	8.0	14.0
2	陶伟华		12	31	3.0	5.0