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摘要:
通过分析白光干涉谱,计算出生长在GaAs衬底上的氮化镓薄膜厚度.重点介绍干涉谱包含的信息及数据分析方法.
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文献信息
篇名 白光干涉的谱分析及其数据处理
来源期刊 应用光学 学科 物理学
关键词 干涉谱 薄膜 数据分析
年,卷(期) 2001,(6) 所属期刊栏目 光谱分析
研究方向 页码范围 28-30
页数 3页 分类号 O433.4-37
字数 1123字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-2082.2001.06.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 史庆军 29 96 5.0 8.0
2 常久伟 1 15 1.0 1.0
3 徐菌 1 15 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
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  • 二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
干涉谱
薄膜
数据分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
应用光学
双月刊
1002-2082
61-1171/O4
大16开
西安市电子城电子三路西段9号(西安123信箱)
1980
chi
出版文献量(篇)
3667
总下载数(次)
3
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