影响测试Tg因素

• 作者: 周义敏 赵惠青
• 来源期刊: 印制电路信息
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 检验与测试
• 页码范围: 45-48
• 页数: 4页
• 分类号: TN41
• 字数: 2600字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-0096.2001.05.013

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周义敏		1	2	1.0	1.0
2	赵惠青		2	2	1.0	1.0