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摘要:
本文研究平行平面穿通结击穿电压的计算.首先根据电离率积分方程得出以归一化外延层厚度为变量的穿通结击穿电压拟合表达式,然后以此为基础,比较了另两种解析方法计算穿通结击穿电压的结果.分析表明:校正临界电场法可给出与电离率积分模式一致的击穿电压,而经典临界电场法将导致较大的误差.
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文献信息
篇名 平行平面穿通结击穿电压的计算及比较
来源期刊 电子学报 学科 工学
关键词 穿通结 击穿电压 经典临界电场法 校正临界电场法 电离率积分
年,卷(期) 2001,(5) 所属期刊栏目 科研通信
研究方向 页码范围 689-691
页数 3页 分类号 TN323+4
字数 2234字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0372-2112.2001.05.030
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 黄如 北京大学微电子学研究所 87 413 9.0 17.0
2 张兴 北京大学微电子学研究所 120 618 12.0 20.0
3 王阳元 北京大学微电子学研究所 78 1128 15.0 32.0
4 何进 北京大学微电子学研究所 24 84 5.0 8.0
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研究主题发展历程
节点文献
穿通结
击穿电压
经典临界电场法
校正临界电场法
电离率积分
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子学报
月刊
0372-2112
11-2087/TN
大16开
北京165信箱
2-891
1962
chi
出版文献量(篇)
11181
总下载数(次)
11
总被引数(次)
206555
相关基金
国家重点基础研究发展计划(973计划)
英文译名:National Basic Research Program of China
官方网址:http://www.973.gov.cn/
项目类型:
学科类型:农业
论文1v1指导