CRC校验在DALLAS单总线产品中的应用

• 作者: 张毅 戚俊 李季 陈结祥
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 单总线 循环冗余校验
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 光电技术与材料
• 页码范围: 556-559
• 页数: 6页
• 分类号: TN915.05|TN919
• 字数: 4154字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2001.06.019

摘要

通过对循环冗余校验(CRC)原理的分析,给出了CRC校验在DALLLAS单总线产品的硬件及软件中的实现方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张毅	中国科学院安徽光学精密机械研究所	121	1404	19.0	31.0
2	李季	中国科学院安徽光学精密机械研究所	41	626	13.0	24.0
3	戚俊	中国科学院安徽光学精密机械研究所	22	263	9.0	16.0
4	陈结祥	中国科学院安徽光学精密机械研究所	29	283	8.0	16.0