CRC生成与同构逆序校验方法

• 作者: 李克清 梁海华 盘丽娜
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 循环冗余校验 同构逆序校验 Ⅰ型电路 Ⅱ型电路 非零初态 全状态转移矩阵
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 页码范围: 167-169,172
• 分类号: TN915
• 语种: 中文

摘要

循环冗余校验码(CRC)被广泛应用于通信领域,CRC生成有两种电路:Ⅰ型、Ⅱ型.现有的逆序校验方法是基于Ⅱ型电路生成、Ⅰ型电路逆序校验,存在CRC生成与逆序校验电路不同构的问题,不便于模块化设计.根据Ⅰ、Ⅱ型电路特性,基于全状态转移矩阵,给出一般情况下,即CRC生成电路寄存器为非零初态时,CRC生成为Ⅰ型或Ⅱ型对应的同构Ⅰ型或Ⅱ型逆序校验方法.生成与逆序校验同构后,中间处理电路结构不变,参数不同,可以根据需要对其进行优化,提高处理速率.最后,通过实例计算,验证了同构逆序校验方法的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李克清	常熟理工学院计算机科学与工程学院	38	206	8.0	12.0
2	梁海华	常熟理工学院计算机科学与工程学院	9	14	2.0	3.0
3	盘丽娜	常熟理工学院计算机科学与工程学院	12	14	2.0	3.0