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摘要:
根据电化学C-V测量AlGaInP外延片获得的载流子浓度深度分布数据,以及其LED外延片封装后的工作电压,计算了其中N+-N与P+-P两种同型结的接触电势差,指出调制掺杂同型结的掺杂浓度分布是影响LED工作电压的另一大因素,并提出了进一步降低LED工作电压的有效措施.
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文献信息
篇名 调制掺杂同型结对HB-LED工作电压的影响
来源期刊 量子电子学报 学科 工学
关键词 调制掺杂 同型结 接触电势差 高亮度发光二极管
年,卷(期) 2001,(3) 所属期刊栏目 激光技术与器件
研究方向 页码范围 278-280
页数 3页 分类号 TN2484
字数 2209字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-5461.2001.03.020
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 范广涵 华南师范大学MOCVD实验室 147 1064 16.0 26.0
2 刘颂豪 华南师范大学MOCVD实验室 308 3297 27.0 39.0
3 文尚胜 华南理工大学应用物理系 96 434 11.0 15.0
4 廖常俊 华南师范大学MOCVD实验室 92 843 15.0 23.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
调制掺杂
同型结
接触电势差
高亮度发光二极管
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
量子电子学报
双月刊
1007-5461
34-1163/TN
大16开
安徽省合肥市1125邮政信箱
26-89
1984
chi
出版文献量(篇)
2856
总下载数(次)
6
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