微焦点X射线成像系统扫描参数测量及投影图像校正研究

• 作者: 倪建平 刘亚强 康克军 李政 白宏涛 程建平 高文焕
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微焦点X射线成像系统 扫描参数 几何畸变
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 165-168
• 页数: 4页
• 分类号: TL82|TL99
• 字数: 3024字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2001.03.002

摘要

微焦点X射线成像系统由于被重新安装以及初始化,导致系统参数读数与实际值之间存在偏量。给出了测量这些偏量值的基本原理和方法,并通过实验求出偏量值。由于图像增强器与图像获取装置本身固有特点以及非线性获取成像,投影图像存在几何畸变。讨论了图像几何畸变校正的基本原理,并给出具体步骤以及校正后的图像。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高文焕	清华大学工程物理系	40	476	11.0	20.0
2	康克军	清华大学工程物理系	79	661	12.0	23.0
3	刘亚强	清华大学工程物理系	29	92	5.0	7.0
4	程建平	清华大学工程物理系	107	664	13.0	20.0
5	李政	清华大学工程物理系	199	3420	34.0	49.0
6	倪建平	清华大学工程物理系	17	69	4.0	7.0
7	白宏涛	清华大学工程物理系	3	12	2.0	3.0