非本征条件下N型HgCdTe光导探测器的厚度选择

• 作者: 庞真 徐笑敏
• 来源期刊: 山东建筑工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: HgCdTe光导探测器 表面空间电荷 器件厚度 探测率
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 90-94
• 页数: 5页
• 分类号: TN215
• 字数: 2413字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-7644.2001.03.018

摘要

分析了N型HG面空间电荷层中的表面电势的变化情况,计算了Auger复合寿命及光导器件的探测率,讨论了表面电荷密度、表面附合速率及器件厚度对探测器性能的影响.结果表明,在非本征条件下,对N型HgCdTe光导探测器,当表面附合速率及表面电荷密度确定后,对器件探测率存在一最优厚度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庞真	山东建筑工程学院基础部	6	8	1.0	2.0
2	徐笑敏	山东大学红外遥感研究室	2	2	1.0	1.0