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摘要:
si(Li)探测器引起的同步辐射x射线荧光(SR-XRF)谱中的迅逸峰,严重干扰利用XRF谱进行的定性和定量分析.对实验中的逃逸峰进行了鉴别.测定了14个样品的从K Ka到As Ka12个元素的标识谱的逃逸峰的强度和峰位.比较了逃逸峰与最近主峰能量差的实验值和标准值,一般误差小于10%.用简化的x射线激发的si Ka分布出射模型,计算元素逃逸峰强和其主峰强的比值,发现随原子序数增加,实验和理论比值都从约1%下降到0.1%左右.
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文献信息
篇名 同步辐射X荧光分析中的逃逸峰的测量和计算
来源期刊 高能物理与核物理 学科 物理学
关键词 同步辐射X射线荧光Si(Li)探测器 逃逸峰
年,卷(期) 2001,(z1) 所属期刊栏目 光谱学
研究方向 页码范围 39-43
页数 5页 分类号 O57
字数 2695字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0254-3052.2001.z1.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 巨新 中国科学院高能物理研究所 16 134 9.0 11.0
2 康士秀 中国科学技术大学天文与应用物理系 17 114 8.0 10.0
3 孙霞 中国科学技术大学天文与应用物理系 30 317 9.0 17.0
4 姚琨 中国科学技术大学天文与应用物理系 8 75 4.0 8.0
5 吴自勤 中国科学技术大学天文与应用物理系 33 324 9.0 17.0
6 黄宇营 中国科学院高能物理研究所 75 448 11.0 17.0
7 冼鼎昌 中国科学院高能物理研究所 21 109 6.0 10.0
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研究主题发展历程
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同步辐射X射线荧光Si(Li)探测器 逃逸峰
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
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高能物理与核物理
月刊
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