用关键特征集对逻辑进行优化

• 作者: 林争辉 白宁
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 逻辑综合 关键特征集 质项集 最小项
• 年，卷（期）: 2001,（9）
• 所属期刊栏目: 电子设计自动化
• 页码范围: 860-864
• 页数: 5页
• 分类号: TN47
• 字数: 4328字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1003-9775.2001.09.019

摘要

提出了一个两级逻辑优化的新算法.与通过函数质蕴涵集求解覆盖的传统算法不同,文中将求解逻辑函数的质蕴涵项与推导覆盖问题相结合,直接得出覆盖问题的解.算法的主要问题可以简化为:对于立方描述的单元,求解最小覆盖.在这个过程中又提出了一种改进的覆盖吸收算法:基于关键特征集合的选拔吸收算法.此算法不用求所有的立方,通过标准的测试例子与原来的Espresso算法作比较,对于大电路,在计算时间上,新算法有明显的改进.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林争辉	上海交通大学大规模集成电路研究所	116	603	12.0	20.0
2	白宁	上海交通大学大规模集成电路研究所	4	9	2.0	3.0