电离辐射对EL-4细胞凋亡与坏死的影响

• 作者: 付士波 苏旭 薛丽香 金光辉
• 来源期刊: 中华放射医学与防护杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 电离辐射 细胞凋亡 细胞坏死
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 基础研究
• 页码范围: 24-26
• 页数: 3页
• 分类号: R3
• 字数: 2166字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3760/cma.j.issn.0254-5098.2001.01.007

摘要

目的　研究不同剂量电离辐射对EL-4细胞凋亡和细胞坏死的影响。方法　采用PI和Hoechst 33342双染、流式细胞术检测。结果　实验结果表明：给予50～200 mGy低剂量照射后6 h，EL-4细胞凋亡和坏死较对照组没有升高，而给予1.0～8.0 Gy大剂量X射线照射后6 h，细胞凋亡较对照组有明显升高，4.0 Gy以上剂量，细胞坏死显著升高。结论　一定剂量的电离辐射不仅可以诱导凋亡的产生，而且可直接导致细胞坏死，即细胞的死亡模式与受照剂量有关。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	付士波	白求恩医科大学卫生部放射生物学重点实验室	9	45	3.0	6.0
2	金光辉	白求恩医科大学卫生部放射生物学重点实验室	3	16	2.0	3.0
3	薛丽香	白求恩医科大学卫生部放射生物学重点实验室	3	16	2.0	3.0
4	苏旭		3	14	2.0	3.0