滤光片及X射线二极管响应面均匀性研究

• 作者: 丁永坤 丁耀南 孙可煦 崔延莉 崔明启 易荣清 曹磊峰 朱佩平 杨国洪 杨家敏 温天舒 王耀梅 赵屹东 黄天暄 黎刚
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 滤光片 X射线二极管 响应面 均匀性 同步辐射装置
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 104-107
• 页数: 4页
• 分类号: O434.14
• 字数: 2865字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2001.02.007

摘要

介绍了用于软X光能谱测量的滤光片及X射线二极管能量响应均匀性研究。实验利用北京同步辐射装置3W1B束线,流强40～80mA的运行条件,在100～1600eV能区对滤光片及X射线二极管(XRD)作能响曲线标定。重点对C滤片及Al阴极XRD的灵敏面作能响面均匀性研究,最后给出响应面均匀性测量结果及计算分析。