投影法CCD测径系统

• 作者: 俞巧云 李为民 裘凌红
• 来源期刊: 仪表技术与传感器
• 学科: 工学
• 关键词: 尺寸测量 CCD 投影法
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 国内科技
• 页码范围: 34-35
• 页数: 2页
• 分类号: TP2
• 字数: 1488字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-1841.2001.01.013

摘要

文中介绍以线阵CCD作为光电传感器的投影放大法线径测量系统，着重分析提高系统稳定性和测量精度的方法。系统以半导体激光器为光源，成像系统采用物方远心光路。对阴影图像进行一阶微分并求其局部重心点作为其边缘特征点。对光学系统放大倍数和成像系统像差分别进行线性、非线性标定以提高测量精度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李为民	中国科学技术大学精密机械与精密仪器系	106	902	17.0	26.0
2	俞巧云	中国科学技术大学精密机械与精密仪器系	17	320	9.0	17.0
3	裘凌红	中国科学技术大学精密机械与精密仪器系	3	35	2.0	3.0