改善ADC微分非线性的一种方法

• 作者: 杨华庭
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 模数变换器 微分非线性 计算机仿真
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 页码范围: 423-426
• 页数: 4页
• 分类号: TN79
• 字数: 2999字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2001.06.003

摘要

根据放射性能谱测量的误差并不等于对单个脉冲测量的误差的特点,提出一种先测出模数变换器的道宽,然后利用软件方法进行道宽均匀的技术.利用这种可在不附加道宽均匀电路的情况下将已商品化的高速高分辨率单片模数变换集成电路用于能谱测量.这种方法也可校正由前置放大器、线性放大器、成形电路、峰展宽电路和模数变换电路等共同造成的微分非线性和积分非线性.最后,给出了这种方法的计算机模拟仿真的一些结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨华庭		2	12	1.0	2.0