八位嵌入式微处理器内核的测试方法研究

• 作者: 单羽 高力立
• 来源期刊: 实验技术与管理
• 学科: 工学
• 关键词: 八位嵌入式微处理器内核 测试矢量
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 实验技术与方法
• 页码范围: 57-60
• 页数: 4页
• 分类号: TP274+.5
• 字数: 1687字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-4956.2001.01.018

摘要

本文在对八位嵌入式微处理器内核性能分析的基础上研究了它的测试方法，并对其测试矢量做了介绍。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	单羽	清华大学微电子学研究所	2	3	1.0	1.0
2	高力立	清华大学微电子学研究所	2	3	1.0	1.0