V2O5熔体的微量氧化还原研究

• 作者: 谷臣清 赵康 魏劲松
• 来源期刊: 无机材料学报
• 学科: 化学
• 关键词: 溶胶-凝胶 薄膜 V2O5
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 697-702
• 页数: 6页
• 分类号: O645
• 字数: 3055字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-324X.2001.04.021

摘要

将700、800、1100℃三种温度下的V2O5熔体制得V2O5溶胶,在非晶玻璃基片上将V2O5溶胶制成V2O5凝胶薄膜试样.通过对V2O5凝胶薄膜试样的电阻随温度的变化测试和电子能谱(ESCA)和X射线衍射分析发现V2O5凝胶薄膜中有四价钒的存在,本文从V2O5熔体的微量氧化还原和晶体结构的角度分析讨论了微量氧化还原影响钒离子价态变化的机理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵康	西安理工大学材料科学与工程学院	101	737	16.0	22.0
2	谷臣清	西安理工大学材料科学与工程学院	51	565	15.0	21.0
3	魏劲松	西安理工大学材料科学与工程学院	6	156	5.0	6.0