机载电子设备耐振试验时间的确定与合格判据

• 作者: 龚庆祥
• 来源期刊: 应用力学学报
• 学科: 航空航天
• 关键词: 机载电子设备 耐振试验 合格判据
• 年，卷（期）: 2001,（z1）
• 页码范围: 106-109
• 页数: 4页
• 分类号: V21
• 字数: 2762字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-4939.2001.z1.022

摘要

根据新研飞机研制过程中提出的问题,论证了机载电子设备仍需进行耐振环境试验的必要性 ,提出了机载电子设备耐振试验时间的确定方法,并对耐振试验的合格判据进行了研究,结果表明耐振试验中,如机载设备仅发生由“一次通过破坏”或“峰值破坏”引起的功能故障 ,仍应判为合格通过.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龚庆祥		5	25	3.0	5.0