再入体模型截短对天线辐射特性影响

• 作者: 丁小磊 李彪
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 方向图 几何绕射 口径极化 截短尺寸
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 458-463
• 页数: 6页
• 分类号: TN82
• 字数: 2462字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2001.05.005

摘要

从再入体典型口径天线在无限大平面上的辐射场出发,采用几何绕射法(GTD),计算分析了不同口径分布的再入体缝隙天线赤道面和子午面辐射场随再入体模型纵向尺寸的变化,实验验证了其计算分析结果,从理论分析和实验得出了可忽略截短效应的再入体模型纵向尺寸.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李彪		1	0	0.0	0.0
2	丁小磊		1	0	0.0	0.0