距离法测试增感屏-胶片系统特性曲线的研究

• 作者: 孙勇 张梦龙 朱延好 王健 谢晋东
• 来源期刊: 泰山医学院学报
• 学科: 医学
• 关键词: X线摄影 距离法 特性曲线 增感屏-胶片系统
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 12-14
• 页数: 3页
• 分类号: R811.1
• 字数: 1940字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7115.2001.01.005

摘要

目的进一步探讨增感屏-胶片系统特性曲线距离测定.法方法在焦点-胶片40～400cm的距离范围内取11个距离曝光点,在不同曝光条件下得到MSCaWO4/Fuii RX及T颗粒两种屏-片体系光密度楔照片,绘制特性曲线.结果(1)T颗粒的平均斜率2.7,MS CaWO4/Fji RX体系的平均斜率2.4.(2)距离测定法的曝光条件取定在60kV～80kV,mAs以在距离100.5 cm[相对曝光量对数(LogRE=1.2)]时得到密度值2.2为选取指标.结论距离法最接近X线摄影实际,其测量参数更有指导意义,根据特性曲线使用的目的选取曝光点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢晋东	医学院放射系	1	1	1.0	1.0
2	朱延好	医学院放射系	1	1	1.0	1.0
3	孙勇	医学院放射系	1	1	1.0	1.0
4	王健	医学院放射系	1	1	1.0	1.0
5	张梦龙	医学院放射系	1	1	1.0	1.0