硫系材料折射率的测量

• 作者: 喻洪波 廖延彪 施纯峥 杨克武 赖淑蓉 陈荣声 黎敏
• 来源期刊: 中国学术期刊文摘
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 报告
• 页码范围: 800-801
• 页数: 2页
• 分类号: TQ171.771.12
• 语种: 中文

摘要

硫系光纤常见的组份为AsxSy、AsxSySez、AsxSeyTez、GeaAsbSecTed.与普通石英光纤相比,硫系光纤的折射率高(2～3),光谱传输范围宽,是目前唯一具备光子能量低、非辐射衰落速率低和红外透过区宽的光纤类型,其红外透过谱区可延伸至20 μm. 光纤的光学特性主要取决于光纤剖面的折射率分布;在后续的分析和实验中,光纤芯和包层的折射率也是设计的基本依据.但是由于硫系玻璃的折射率高达2～3,在绝大多数用于硅基光纤的折射率测试方法--近场扫描法、折射近场法等时,由于找不到如此高折射率的匹配液而无法使用.本文报道了一种简便的测量方法,通过测量材料的布儒斯特角来得到材料的折射率. 我们知道,TM波在非磁性电介质界面的反射系数为