瑞利散射用于气体流场二维瞬态密度测量

• 作者: 于意仲 姚建铨 王杰 王鹏 陈进
• 来源期刊: 光电子·激光
• 学科: 工学
• 关键词: 瑞利散射 流场检测 二维密度测量 分子 标记
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 测量.检测
• 页码范围: 62-64
• 页数: 3页
• 分类号: TN24TN247
• 字数: 1710字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-0086.2001.01.018

摘要

研究了气体流场分子 的瑞利散射光强与流场密度的关系。采用ArF准分子深紫外激光(波长193 nm)，利用带像增 强的ICCD照相机拍摄了O2喷流的瑞利散射图像，得出喷流二维密度结构图像，并通过分子 标记示踪的方法测量了流场截面速度分布的不均匀性

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚建铨	天津大学精仪学院激光与光电子研究所	255	2242	25.0	37.0
2	王鹏	天津大学精仪学院激光与光电子研究所	125	1046	16.0	27.0
3	于意仲	天津大学精仪学院激光与光电子研究所	18	101	6.0	9.0
4	陈进	天津大学精仪学院激光与光电子研究所	7	29	4.0	5.0
5	王杰	天津大学精仪学院激光与光电子研究所	52	189	7.0	12.0