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摘要:
【正】 SPIE-Vol.3835 01204541999年 SPIE 会议录,卷3835:三维成象,光学计量学和检验,5=1999 proceedings of SPIE,Vol.3835:Three-dimensional imaging.optical metrology,and in-spection V[会,英]/SPIE-the Intemational Society forOptical Engineering.—1999.—224P.(EC)
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文献信息
篇名 光电子技术
来源期刊 电子科技文摘 学科 工学
关键词 三维成象 光学计量 会议录 激光相位多普勒 光电子技术 光学探测 激光散射 几何光学近似 和检验 衍射极限
年,卷(期) 2001,(12) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 15-16
页数 2页 分类号 TN
字数 语种
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三维成象
光学计量
会议录
激光相位多普勒
光电子技术
光学探测
激光散射
几何光学近似
和检验
衍射极限
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子科技文摘
月刊
1009-0851
11-4388/TN
16开
1999
chi
出版文献量(篇)
10413
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1
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71
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