表面粗糙度特征的双谱分析

• 作者: 李成贵 沈国帅
• 来源期刊: 宇航计测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 粗糙度 双谱 谱分析
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 页码范围: 8-13
• 页数: 6页
• 分类号: TG84
• 字数: 2769字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7202.2002.06.002

摘要

提出了基于双谱分析的表面粗糙度特征分析方法.通过理论计算,对几种典型的机械加工表面轮廓试件的实验研究,认为双谱具有抑制高斯噪声和保留相位信息的能力,可以反映表面轮廓的偏斜度,特别是偏离高斯型的表面轮廓.对于符合高斯分布的轮廓其双谱近似于零,不符合高斯分布的轮廓其双谱不为零.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李成贵		91	890	16.0	25.0
2	沈国帅		3	12	3.0	3.0