利用发射光谱测定高纯二硫化钼中的硅

• 作者: 李广济 赵昱
• 来源期刊: 中国钼业
• 学科: 工学
• 关键词: 硅 高纯二硫化钼 发射光谱
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 分析与检测
• 页码范围: 38-39,43
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.3+3
• 字数: 1933字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2602.2002.04.010

摘要

用碱熔融法浸出二硫化钼中的微量硅,采用发射光谱技术进行测定,方法简便快速.准确度和精密度可满足高纯二硫化钼产品中微量硅的测定要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵昱		2	5	1.0	2.0
2	李广济		1	1	1.0	1.0