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电子产品可靠性与环境试验期刊
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安全试验中的温升测量
安全试验中的温升测量
作者:
孙建龙
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
安全试验
温升
测量
摘要:
主要探讨在安全试验中,对电子电气产品温升的要求以及温升测量中应注意的一些问题.
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文献信息
篇名
安全试验中的温升测量
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
安全试验
温升
测量
年,卷(期)
2002,(6)
所属期刊栏目
可靠性与环境试验技术及评价
研究方向
页码范围
11-12
页数
2页
分类号
TB24
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2002.06.003
五维指标
作者信息
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孙建龙
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研究主题发展历程
节点文献
安全试验
温升
测量
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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