大电流温升试验中铜排长度对试验误差的影响

• 作者: 吕宏锐 王博 王永祥
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 大电流电器 温升试验 铜排 配电板
• 年，卷（期）: 2009,（17）
• 所属期刊栏目: 通信设备
• 页码范围: 72-74
• 页数: 3页
• 分类号: TP29
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2009.17.023

摘要

大电流电器设备在温升试验中需要使用截面积比较大的铜排,而大截面铜排的导热能力强,使得铜排另端的电源或电连接端子形成的热源对试验设备温升有较大干扰,可能导致试验误差.建立一维有限差分模型分析了大电流温升试验中铜排长度对试品温升造成的误差,给出了为减小误差而必须采用的铜排最小长度.其结论对大电流配电板设计中的温升问题有一定参考作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王永祥		6	16	3.0	3.0
2	王博		4	7	2.0	2.0
3	吕宏锐		2	4	1.0	2.0