基于遗传算法的自适应测试生成

• 作者: 刘晓东 孙圣和
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 测试生成 遗传算法 自适应
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 软件与算法
• 页码范围: 14-16
• 页数: 3页
• 分类号: TP18
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2002.03.004

摘要

文章介绍了一种基于遗传算法的自适应测试生成方法.首先讨论了用遗传算法进行测试生成时构造评价函数的一些方法,然后应用组合电路的Hopfield神经网络模型,提出了基于遗传算法的自适应测试生成算法,该方法不同于传统的方法,它不需要故障传播、回退等过程.实验结果表明了本算法的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙圣和		112	2796	27.0	49.0
2	刘晓东		24	176	9.0	12.0