针对薄层结构物质的微焦点摆动式分层成像方法研究

• 作者: 倪建平 刘亚强 康克军 李政 程建平 袁亚玎
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 数字分层成像 非线性算法 相关算法
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 页码范围: 1-3,8
• 页数: 4页
• 分类号: TL82|TL99
• 字数: 2174字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2002.01.001

摘要

对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究,是无损检测技术的一个重要应用领域.提出了一种新的成像方法,在现有微焦点X辐射成像系统的基础上,采用一种特殊的摆动式扫描方式,基于非线性的重建成像算法,具有扫描速度快、算法简单、实时性高等特点,适合于多层大面积复合材料以及多层电路板的快速成像检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	康克军	清华大学工程物理系	79	661	12.0	23.0
2	刘亚强	清华大学工程物理系	29	92	5.0	7.0
3	程建平	清华大学工程物理系	107	664	13.0	20.0
4	李政	清华大学工程物理系	199	3420	34.0	49.0
5	袁亚玎	清华大学工程物理系	11	67	4.0	8.0
6	倪建平	清华大学工程物理系	17	69	4.0	7.0