用于微波天线的三维面形测量技术

• 作者: 吕乃光 桑新柱 董明利 邓文怡
• 来源期刊: 华中科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 微波天线 视觉测量 三维测量
• 年，卷（期）: 2002,（5）
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TH761.7
• 字数: 1384字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2002.05.006

摘要

在三维立体视觉测量原理的基础上,建立了用于微波天线面形测量的三维视觉测量系统.分析了该测量系统优于其他测量系统的主要优点,给出了它的测量原理,介绍了系统组成及其功能,通过对微波天线的面形测量,验证其可行性.对空间点位进行多次重复测量表明:x,y方向的测量标准差优于0.1!mm,z方向的测量标准差优于0.18!mm,满足微波天线的面形测量要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓文怡	北京机械工业学院电子信息工程系	78	669	15.0	23.0
2	吕乃光	北京机械工业学院电子信息工程系	87	913	17.0	27.0
3	董明利	北京机械工业学院电子信息工程系	41	490	14.0	21.0
4	桑新柱	北京机械工业学院电子信息工程系	8	177	4.0	8.0