用联合D0和D+单双标记测定分支比的方法

• 作者: 严武光 何康林 张纯 张达华 徐春成 毛慧顺 罗春晖 荣刚 衡月昆 赵家伟 赵海文 陈宏芳 马基茂
• 来源期刊: 高能物理与核物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 北京谱仪(BES) 北京正负电子对撞机(BEPC) D介子 单标记 双标记 单举衰变 分支比
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 粒子与场
• 页码范围: 207-215
• 页数: 9页
• 分类号: O4
• 字数: 6233字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3052.2002.03.003

摘要

报道了用"联合D.和D+单双标记"测定衰变分支比的方法.基于北京谱仪(BES)在北京正负电子对撞机(BEPC)质心系能量 s=4.03GeV处获取的数据,利用联合Do和D+单双标记的方法,可以测定D.和D+介子单举和遍举衰变分支比.作为该方法的应用举例,利用BES实验组发表的数据,在90%置信度的情况下,测得D+→φe+v衰变过程分支比的上限为Br(D+→φe+v)＜1.6%.此上限值与BES曾发表的结果一致.