XPS加宽函数的实验处理

• 作者: 徐炜新
• 来源期刊: 上海钢研
• 关键词: X射线光电子能谱 光电子能量 表面分析
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 工艺测试
• 页码范围: 27-29
• 页数: 3页
• 语种: 中文

摘要

介绍了两种XPS加宽函数的实验处理方法.结果表明谱图经过这样的处理后,分辨率大大提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐炜新		3	3	1.0	1.0