PTCR老化特性测试仪

• 作者: 周东祥 时峰 曾亦可 董浩斌 黎步银
• 来源期刊: 工业仪表与自动化装置
• 关键词: PTCR 老化特性 自动测试仪
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 新产品介绍
• 页码范围: 55-57，6
• 页数: 4页
• 分类号: TM933
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0682.2002.03.017

摘要

为满足PTCR生产中老化特性测试的要求,研制了多工位PTCR老化特性测试仪.采用单片机、PLD及各种外围接口电路,实现各个工位的先通先断,从而保证各个工位通断时间满足测试要求,具有自动过电流保护,保证了PTCR老化性能的准确、高效测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾亦可	华中科技大学电子科学与技术系	65	723	15.0	25.0
2	黎步银	华中科技大学电子科学与技术系	55	340	10.0	14.0
3	周东祥	华中科技大学电子科学与技术系	161	1320	16.0	25.0
4	时峰	华中科技大学电子科学与技术系	3	17	2.0	3.0
5	董浩斌	华中科技大学电子科学与技术系	3	32	3.0	3.0