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摘要:
根据移相掩模基本原理,通过光刻工艺模拟提出了一种适于T形栅光刻的新型移相掩模技术--M-PEL.初步实验证明,M-pEL技术可在单层厚胶上经一次光刻形成理想的T形栅抗蚀剂形貌.
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关键词云
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文献信息
篇名 用于T形栅光刻的新型移相掩模技术
来源期刊 微纳电子技术 学科 工学
关键词 光学光刻 移相掩模 T形栅 M-PEL
年,卷(期) 2002,(5) 所属期刊栏目 显微、测量、微细加工技术与设备
研究方向 页码范围 37-40
页数 4页 分类号 TN304.055
字数 1810字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-4776.2002.05.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈宝钦 中国科学院微电子中心 50 361 11.0 16.0
2 崔铮 8 189 5.0 8.0
3 韩安云 1 2 1.0 1.0
4 王育中 1 2 1.0 1.0
5 王维军 1 2 1.0 1.0
6 张倩 1 2 1.0 1.0
7 田振文 1 2 1.0 1.0
8 樊照田 1 2 1.0 1.0
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2006(2)
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研究主题发展历程
节点文献
光学光刻
移相掩模
T形栅
M-PEL
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微纳电子技术
月刊
1671-4776
13-1314/TN
大16开
石家庄市179信箱46分箱
18-60
1964
chi
出版文献量(篇)
3266
总下载数(次)
22
总被引数(次)
16974
论文1v1指导