MgF2氧化现象的X射线衍射研究

• 作者: 孙兆奇 孙大明 徐志元 李爱侠
• 来源期刊: 硅酸盐学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 氧化现象 氟化镁-银复合材料 氟化镁 烧结 X射线衍射
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 页码范围: 505-508
• 页数: 4页
• 分类号: O434.5
• 字数: 2218字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0454-5648.2002.04.020

摘要

采用X射线衍射方法, 研究高稳定化学结构的MgF2在30%Ag(质量分数,下同)掺杂下 , 在低真空中(≥30 Pa)高温(≥600 ℃)烧结后, 氧化成为MgO的过程.在烧结温度为600 ℃, 恒温时间为2 h时, XRD出现d为2.432 6, 2.106 5, 1.4896(0A)的MgO衍射峰 .随着烧结温度升高, MgF2的衍射峰逐渐减弱减少, MgO的衍射峰则逐渐增强增多. 到1 250 ℃时, MgF2的衍射峰全部消失.然而, 将MgF2-30%Ag样品在高真空中(＜10-3 Pa)1 000 ℃烧结, 恒温2 h, 未观察到MgF2有氧化现象.如果将纯Mg F2样品在开口高温炉中(即大气中)1 000 ℃烧结, 仅发现3个较弱的MgO衍射峰(相应的d值为2.100 8, 1.488 2, 1.052 5 ?), MgF2的衍射峰全部出现. 讨论了MgF2的氧化机理, 指出Ag在MgF2的氧化过程中起了中间媒介作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙兆奇	安徽大学物理系	91	563	11.0	16.0
2	李爱侠	安徽大学物理系	37	194	9.0	11.0
3	徐志元	安徽大学物理系	6	39	4.0	6.0
4	孙大明	安徽大学物理系	13	101	6.0	9.0