基于 VXI 总线的雷达幅频特性测试

• 作者: 于久恩 田庆民 黄中宁
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 雷达测试 天线控制系统 VXI 总线
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 页码范围: 211-213
• 页数: 3页
• 分类号: TN957|TN274+5|TP273
• 字数: 1108字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2002.03.014

摘要

目的介绍了雷达天线控制系统闭环幅频特性模拟测试的原理. 方法基于 VXI 总线的测试设计和测试参数选择. 结果与结论该方案能满足雷达幅频特性测试的需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田庆民	军械工程学院光学与电子工程系	33	349	9.0	17.0
2	于久恩	军械工程学院光学与电子工程系	9	21	4.0	4.0
3	黄中宁		1	1	1.0	1.0