非接触应用领域中与国际标准(ISO)兼容的射频身份识别器件(RFID)的生产测试

• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 43-46
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 字数: 3067字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2583.2002.04.023

摘要

当今应用集成电路在测试13.56MHz的非接触式应用芯片时,通常要在探针卡和器件接口板上增加很多外围电路,这限制了并行测试最多只能达到1到2路.我们在这里将讨论新的测试方案,新的测试方案体现在标准的自动测试设备中,直接通过天线的两脚进行高达32路的真实并行测试,并且无需附加外围电路.这种新的测试方案大幅度提高了产品质量及产量