焦散线法应用的进一步研究及KⅡ测定

• 作者: 姚建初
• 来源期刊: 华中科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 物理学
• 关键词: 断裂力学 焦散线法 应力解冻 Ⅱ型裂纹 应力强度因子
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 页码范围: 4-6
• 页数: 3页
• 分类号: O346.1
• 字数: 2610字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2002.06.002

摘要

结合Ⅱ型裂纹厚试样的焦散线图像分析及KⅡ的测定,提出了的焦散线法与三维广弹应力冻结技术相结合的方法,并说明其技术难点及有关实验方案.为应用焦散线法分析求解具有应力奇异性的三维问题提供了基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚建初	华中科技大学机械科学与工程学院	6	134	3.0	6.0