EMC测试中的电流注入技术

• 作者: 刘波 谭伟 高本庆
• 来源期刊: 安全与电磁兼容
• 学科: 工学
• 关键词: EMC测试 高场强辐射场(HIRF) 大电流注入(BCI) 直接电流注入(DCI)
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 测试与测量
• 页码范围: 19-22
• 页数: 4页
• 分类号: TM92
• 字数: 4805字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9776.2003.04.006

摘要

文章综述了在系统电磁兼容性(EMC)测试中替代直接辐照的电流注入技术的最新研究成果.电流注入技术主要有两种:大电流注入(BCI)和直接电流注入(DCI).BCI技术主要用于辐射敏感度测试,尤其是测试电缆束对射频耦合的敏感度.DCI技术是一种用在高场强辐射场(HIRF)下系统级EMC安全裕度测试的新技术,研究的热点是其相对自由场辐照的有效性及等效关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高本庆	北京理工大学电子工程系	85	788	15.0	23.0
2	谭伟	北京理工大学电子工程系	3	53	3.0	3.0
3	刘波	北京理工大学电子工程系	12	155	6.0	12.0